
Adres WWW wydrukowanej strony: http://www.szkolenia.eventis.pl//szkolenie/statystyczne-sterowanie-procesem-spc-z-analiza-systemow-pomiarowych-msa-10764-id127
Informacje o szkoleniu
-
Statystyczne Sterowanie Procesem (SPC) z Analizą Systemów Pomiarowych (MSA)
ID szkolenia: 10764
Kategoria: Szkolenia i Kursy
Branża/temat: Jakość Produkcja -
Adres szkolenia:
TQMsoft
Bociana 22
31-231 Kraków
woj. małopolskie
-
Termin szkolenia:
Data: 30.2012-30.01.2013
Godziny zajęć (czas trwania):3 dni po 7 godzin
TERMINY:
13-15.02.2012
18-20.04.2012
27-29.06.2012 -
Organizator szkolenia:
TQMsoft
Opis szkolenia
Informacje podstawowe o szkoleniu:
Przedmiot szkolenia:
Podstawy SPC (Statystycznego Sterowania Procesem) w zastosowaniu do monitorowania procesów produkcyjnych i pomiarowych. Źródła zmienności procesu produkcyjnego i procesu pomiarowego. Rola jakości systemu pomiarowego w kontroli jakości i w sterowaniu procesem produkcyjnym. Ocena zdolności i stabilności procesu produkcji i procesu pomiaru. Karty kontrolne Shawharta. Wskaźniki zdolności procesu produkcji – Cp, Cpk, Pp, Ppk. Wskaźniki zdolności systemu pomiarowego – Cg, Cgk, wyniki analizy R&R. Liczne przykłady i ćwiczenia.
Szkolenie skierowane jest do:
• Osoby odpowiedzialne za wdrożenie, utrzymanie i doskonalenie procedur SPC
w przedsiębiorstwie,
• średni szczebel nadzoru procesu produkcji – kierownicy, inżynierowie procesu, technolodzy, liderzy zespołów, brygadziści, mistrzowie,
• osoby odpowiedzialne za jakość, pracownicy działów zapewnienia jakości, inżynierowie jakości, analitycy,
• osoby odpowiedzialne za nadzorowanie systemów / procesów pomiarowych,
• pracownicy izb pomiarów, szefowie kontroli jakości,
• osoby realizujące projekty doskonalące w procesie produkcyjnym.
Program szkolenia:
• Przyczyny i skutki zmienności procesu, statystyczny opis zmienności, pojęcie stabilności procesu.
• Rozkład normalny (Gaussa), reguła trzech odchyleń standardowych, graficzny test normalności.
• Ocena i interpretacja współczynników zdolności procesu: Cp, Cpk, Pp, Ppk.
• Zdolność a frakcja realizacji poza granicami specyfikacji.
• Ocena zdolności procesu w przypadku rozkładów innych od normalnego.
• Karty kontrolne Shewharta dla właściwości mierzalnych oraz według oceny alternatywnej konstrukcja, interpretacja, obliczanie Cp, Cpk na podstawie kart dla właściwości mierzalnych.
• Zdolność procesu w przypadku oceny alternatywnej.
• SPC w Six Sigma.
• Źródła zmienności w procesie pomiaru: powtarzalność i odtwarzalność.
• Podstawowe procedury MSA (Measurement System Analysis) wg wytycznych branży motoryzacyjnej (QS 9000 - MSA 3rd Edition i in.).
• Ocena zdolności systemu pomiarowego – interpretacja wskaźników Cg, Cgk, %R&R, %EV, %AV, ndc.
• Wzajemne relacje pomiędzy SPC a MSA.
Ćwiczenia:
• Graficzny test normalności, ocena spodziewanej frakcji realizacji poza granicami specyfikacji na podstawie rozkładu normalnego.
• Wyznaczanie współczynników zdolności procesu Cp, Cpk, Pp, Ppk.
• Konstrukcja kart kontrolnych Shewharta dla właściwości mierzalnych.
• Konstrukcja kart kontrolnych Shewharta według oceny alternatywnej.
• Wyznaczanie wskaźników Cg, Cgk dla prostego zadania pomiarowego.
• Wykonanie analizy R&R z udziałem kilku operatorów przyrządu pomiarowego.
Informacje o prelegentach:
trener TQMsoft, specjalista – praktyk w dziedzinie metod statystycznych w zarządzaniu jakością, metod statystycznych w Six Sigma
Koszt i warunki udziału
Ceny:
- 1500 - PLN/os
Cena zawiera:
szkolenie, materiały, certyfikat uczestnictwa w szkoleniu, obiady, słodki poczęstunek, możliwość bezpłatnych, krótkich konsultacji do 3 miesięcy po szkoleniu, pomoc w rezerwacji hotelu
Dostępne zniżki:
- 20% - zniżka dla drugiej i kolejnej osoby zgłoszonej przez firmę
Dofinansowanie z UE:
Nie.
Warunki udziału i przyjmowania zgłoszeń:
Zgłoszenie uczestnictwa w postaci Karty zgłoszenia przesłać w postaci faksu, nie później niż na 5 dni roboczych przed rozpoczęciem szkolenia.
Płatność za szkolenie następuje na podstawie faktury otrzymanej po szkoleniu w terminie 14 dni.