
Adres WWW wydrukowanej strony: http://www.szkolenia.eventis.pl//szkolenie/statystyczne-sterowanie-procesem-spc-szkolenie-podstawowe-10730-id127
Informacje o szkoleniu
-
Statystyczne Sterowanie Procesem (SPC) – szkolenie podstawowe
ID szkolenia: 10730
Kategoria: Szkolenia i Kursy
Branża/temat: Jakość Produkcja -
Adres szkolenia:
TQMsoft
Bociana 22
31-231 Kraków
woj. małopolskie
-
Termin szkolenia:
Data: 16.2012-17.01.2013
Godziny zajęć (czas trwania):2 dni x 6 godzin,
TERMINY SZKOLENIA:
22-23.03.2012
17-18.05.2012 -
Organizator szkolenia:
TQMsoft
Opis szkolenia
Informacje podstawowe o szkoleniu:
Na szkolenie składają się wykłady i ćwiczenia. Szkolenie ma charakter kompleksowy, od podstaw do praktycznego wykorzystania metod SPC. Omawiana jest zarówno problematyka konstrukcji określonych metod jak i ich efektywnego wykorzystania.
Szkolenie skierowane jest do:
• osoby zajmujące się problemami zapewnienia jakości,
• pracownicy działów jakości, inżynierowie jakości, technolodzy, kierownicy, mistrzowie,
• osoby odpowiedzialne za jakość dostawców.
Program szkolenia:
1. Rola i znaczenie SPC we współczesnych systemach zarządzania jakością.
2. Zmienność, przyczyny przypadkowe i szczególne zmienności. Pojęcie procesu stabilnego (pod kontrolą) i rozregulowanego (poza kontrolą). Statystyczny opis zmienności – obliczanie i interpretacja średniej, mediany, rozstępu, odchylenia standardowego (przykłady). Graficzne metody prezentacji danych: konstrukcja i interpretacja histogramu (przykłady, ćwiczenia).
3. Zdolność procesu. Obliczanie i interpretacja współczynników zdolności procesu/maszyny Cp, Cpk, Cm, Cmk, Cp, Cpk. Wykorzystanie rozkładu normalnego w analizie zdolności procesu. Zdolność procesu a wadliwość. Jakość doskonała w podejściu Six Sigma (przykłady, ćwiczenia).
4. Karty kontrolne jako narzędzie monitorowania procesu; ogólne zasady funkcjonowania. Konstrukcja kart kontrolnych Shewarta dla cech mierzalnych (wartości średniej i rozstępu, wartości średniej i odchylenia standardowego, mediany i rozstępu, pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu) i według oceny alternatywnej (liczby jednostek niezgodnych (np), frakcji jednostek niezgodnych (p), liczby niezgodności (c), liczby niezgodności na jednostkę (u)). Obliczanie współczynników zdolności procesu Cp, Cpk na podstawie informacji zawartych w kartach kontrolnych dla cech mierzalnych. Przeliczanie kart dla cech mierzalnych przy zmianie liczności próbki. Zalety i wady kart kontrolnych Shewharta dla cech mierzalnych i według oceny alternatywnej. Zasady optymalnego doboru karty i jej wykorzystania: metody próbkowania, kryteria identyfikacji rozregulowania procesu (sygnały, trendy, serie, testy strefowe itp.). Wybrane sytuacje szczególne: karta kontrolna w przypadku procesów z trendem spowodowanym np. zużywaniem się narzędzia, karta kontrolna ważonej liczby niezgodności na jednostkę itp. (przykłady, ćwiczenia).
5. Wzajemne relacje pomiędzy SPC a nadzorowaniem aparatury kontrolno-pomiarowej (MSA) i analizą skutków i przyczyn wad (FMEA). Krótki przegląd metod SPC w zakresie doskonalenia procesu.
6. Zasady wdrażania metod SPC.
Informacje o prelegentach:
trener TQMsoft, specjalista – praktyk w dziedzinie metod statystycznych w zarządzaniu jakością, metod statystycznych w Six Sigma
Wydarzenia towarzyszące:
Koszt i warunki udziału
Ceny:
- 1050 - PLN/os
Cena zawiera:
wykład, zajęcia warsztatowe, case study, możliwość konsultacji po szkoleniu, materiały szkoleniowe obiady, słodki poczęstunek,
Dostępne zniżki:
- 20% - zniżka dla drugiej i kolejnej osoby zgłoszonej przez firmę
Dofinansowanie z UE:
Nie.
Warunki udziału i przyjmowania zgłoszeń:
Zgłoszenie uczestnictwa w postaci Karty zgłoszenia przesłać w postaci faksu, nie później niż na 5 dni roboczych przed rozpoczęciem szkolenia.
Płatność za szkolenie następuje na podstawie faktury otrzymanej po szkoleniu w terminie 14 dni.