Szkolenie: SPC ( Statystyczna kontrola procesu) + MSA (Analiza systemów pomiarowych )

Wyszukiwanie
Słowo kluczowe:
Np.: temat, miasto, nazwa organizatora...
Kategoria:

Adres WWW wydrukowanej strony: http://www.szkolenia.eventis.pl//szkolenie/spc--statystyczna-kontrola-procesu--msa-analiza-systemow-pomiarowych--33319-id1217

Informacje o szkoleniu

  • SPC ( Statystyczna kontrola procesu) + MSA (Analiza systemów pomiarowych )


    ID szkolenia: 33319
    Kategoria: Szkolenia i Kursy
    Branża/temat: Jakość
  • Adres szkolenia:

    ARKA SPA
    Świerkowa
    Poznań
    woj. wielkopolskie
  • Termin szkolenia:

    Data: 12-13.07.2012
    Godziny zajęć (czas trwania):
    16H, 2 DNI
  • Organizator szkolenia:

    SGP Training&Consulting przy SGP Sp. z o.o.
Zadaj pytanie:
Zgłoś uczestnictwo:
Narzędzia: Poleć znajomemu Drukuj
Wyszukaj inne
Szkolenia i Kursy

Opis szkolenia

Informacje podstawowe o szkoleniu:

Cele szkolenia:
Zapewnienie bieżącej kontroli procesu, zrozumienie zmienności procesu oraz jego osiągów
Zapewnienie lepszego zrozumienia źródeł zmienności wpływających na wyniki pomiarów.

Szkolenie skierowane jest do:

dział jakości

Program szkolenia:

SPC - Statystyczne Sterowanie Procesami
Cel SPC
Co to jest proces
Informacje o osiągach procesu
Oddziaływanie na proces
Oddziaływanie na wyjściu
Rodzaje kart kontrolnych
Krótkoterminowe i długoterminowe wskaźniki zdolności procesu
Zmienność procesu
Wskaźniki zdolności procesów
Przyczyny zmienności procesu
Sterowanie procesem
Analiza kart kontrolnych
Analiza trendów

MSA - Analiza Systemów Pomiarowych

Podstawowe pojęcia statystyczne związane z MSA
Charakterystyka pomiarów
Źródła błędów pomiarowych
Wzorcowanie i kalibracja, spójność pomiarowa
Zmienność, liniowość i stabilność w systemach pomiarowych
Metodyka wyznaczania zdolności urządzenia pomiarowego Cg i Cgk (Procedura I)
Powtarzalność i odtwarzalność systemu pomiarowego - metoda R&R (Procedura II)
Wyznaczaniu Cg i Cgk – ćwiczenia praktyczne
Analiza R&R dla danych ciągłych – ćwiczenia praktyczne
Błędy I i II rodzaju
Rodzaje atrybutowych analiz R&R
Analiza R&R dla danych atrybutowych metodą analityczną - omówienie i ćwiczenia
Analiza R&R dla danych atrybutowych metodą wykrywania sygnału - omówienie i ćwiczenia
Analiza R&R dla danych atrybutowych metodą wyznaczania współczynnika kappa - omówienie i ćwiczenia
Wykres zdolności sprawdzianu (GPC – Gauge Performance Curve)
interpretacja wyników analiz pod kątem identyfikacji przyczyn błędów i doskonalenia kontroli

Informacje o prelegentach:

trener SGP

Koszt i warunki udziału

Ceny:

  • 1290 - NETTO

Cena zawiera:

proces szkolenia, certyfikat uczestnictwa, pełne wyżywienie, imprezę integracyjną, możliwość korzystania z basenu, jacuzzi. Przy zgłoszeniu powyżej jednego pokrywamy koszty noclegu

Dofinansowanie z UE:

Nie.

Warunki udziału i przyjmowania zgłoszeń:

Zgłoszenia należy dokonywać poprzez wysłanie formularza zgłoszeniowego, dostępnego na stronie http://www.szkolenia-sgp.pl/formularz-zgloszeniowy

Szkolenie, kurs: SPC ( Statystyczna kontrola procesu) + MSA (Analiza systemów pomiarowych )