
Adres WWW wydrukowanej strony: http://www.szkolenia.eventis.pl//szkolenie/analiza-systemow-pomiarowych---metoda-rr-dla-pomiarow-niepowtarzalnych-13551-id127
Informacje o szkoleniu
-
Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych
ID szkolenia: 13551
Kategoria: Szkolenia i Kursy
Branża/temat: Jakość -
Adres szkolenia:
TQMsoft
Bociana 22a
31-231 Kraków
woj. małopolskie
-
Termin szkolenia:
Data: 30.2012-30.01.2013
Godziny zajęć (czas trwania):2 dni po 7 godzin
TERMINY:
02-03.02.2012
12-13.04.2012 -
Organizator szkolenia:
TQMsoft
Opis szkolenia
Informacje podstawowe o szkoleniu:
Metody oceny zdolności systemów pomiarowych (MSA) w przypadku pomiarów niepowtarzalnych (np. niszczących lub zmieniających wielkość mierzoną) wg wytycznych branży motoryzacyjnej (MSA-4). Przegląd i powtórka metod MSA dla pomiarów powtarzalnych. Monitorowanie stabilności systemów pomiarowych w przypadku pomiarów niepowtarzalnych, analiza „R&R” dla pomiarów niepowtarzalnych – ARM, RM, ANOVA. Przykłady, ćwiczenia z wykorzystaniem prostego sprzętu pomiarowego i arkuszy obliczeniowych. Szacowany udział części praktycznej szkolenia: ok. 80%.
Szkolenie skierowane jest do:
- osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno- pomiarowym, - pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych / badawczych, - osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów / metod kontroli wyrobu / nadzorowania procesu, - pracownicy działów jakości / kontroli jakości, - auditorzy wewnętrzni, auditorzy II strony (dostawców), auditorzy III strony (certyfikujący), szczególnie wg wymagań ISO/TS 16949, - osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt)
Program szkolenia:
• Zdolność systemu pomiarowego:
- przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru,
- niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji
- skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem,
• Składniki zmienności, wskaźniki i wymagania – powtórka:
- niepoprawność wskazań (błąd systematyczny),
- błędy przypadkowe: powtarzalność (EV), odtwarzalność (AV), niepewność wynikowa (powtarzalność i odtwarzalność R&R),
- zmienność całkowita (TV) a zmienność własna procesu (PV),
- rozdzielczość i rozróżnialność (ndc),
- wskaźniki zdolności i wymagania dla zadań pomiarowych związanych z kontrolą jakości lub sterowaniem procesem,
- krótkoterminowa i długoterminowa stabilność systemu pomiarowego: karty kontrolne SPC w zastosowaniu do monitorowania systemu pomiarowego,
• Metodologia badań zdolności systemów pomiarowych:
- analiza „R&R” metodą średnich i rozstępów (ARM) dla pomiarów „powtarzalnych” – powtórka,
- przypadek pomiaru „niepowtarzalnego” – problemy z określeniem źródeł zmienności,
- metody monitorowania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów powtarzalnych (procedury S1, S2) oraz niepowtarzalnych (procedury S3, S4, S5a, S5b),
- pojęcie próbki „homogenicznej”, wytyczne przygotowania,
- metody badania zdolności systemu pomiarowego w przypadku pomiarów niepowtarzalnych: procedury V3, V3a, V4, V4a – analiza „R&R” z użyciem metody ARM (średnich i rozstępów) „ANOVA Crossed” (krzyżowa) i „ANOVA Nested” (zagnieżdżona),
- problemy i ograniczenia w interpretacji negatywnych wyników analiz.
Ćwiczenia:
- Analiza R&R metodą średnich i rozstępów (ARM)- analiza przypadku (powtórka),
- Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych X-mR, z-R, Xśr-R do monitorowania długoterminowej stabilności systemu pomiarowego (procedury S1, S3, S4, S5a),
- Ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu ,,orzekanie zgodności ze specyfikacją" oraz do zastosowań w SPC (pomiary ,,niepowtarzalne"):
+ procedura V3 oraz V3a (test-retest study) ćwiczenie obliczeniowe,
+ analiza R&R metodą ,,Anova Nested" studia przypadków,
+ analiza R&R metodą ,,Anova Nested" przygotowanie próbki homogenicznej, własnoręczne pomiary i analiza wyników,
Uwagi:
- W ramach ćwiczeń może zostać wykonana analiza ,,R&R" dla systemu pomiarowego dostarczonego na szkolenie przez Uczestników- wymagany wcześniejszy kontakt z trenerem,
- W przypadku przesłania przez Uczestników nie później niż 14 dni przed szkoleniem opisu konkretnego problemu związanego z analizą R&R, w czasie ćwiczeń może odbyć się wspólna próbą jego rozwiązania- wymagana pisemna zgoda Uczestnika na upublicznienie opisu problemu (bez nazw własnych).
Metodyka:
wykład
ćwiczenia
Szkolenie ilustrowane przykładami, symulacjami, ćwiczeniami w grupach.
Informacje o prelegentach:
trener TQMsoft, specjalista – praktyk w dziedzinie metrologii
Koszt i warunki udziału
Ceny:
- 1400 - PLN/os.
Cena zawiera:
szkolenie, materiały, certyfikat uczestnictwa w szkoleniu, obiady, słodki poczęstunek, możliwość bezpłatnych, krótkich konsultacji do 3 miesięcy po szkoleniu, pomoc w rezerwacji hotelu
Dostępne zniżki:
- 20% - zniżka dla drugiej i każdej następnej zgłoszonej osoby
Dofinansowanie z UE:
Nie.
Warunki udziału i przyjmowania zgłoszeń:
Zgłoszenie uczestnictwa w postaci Karty zgłoszenia przesłać w postaci faksu, nie później niż na 5 dni roboczych przed rozpoczęciem szkolenia.
Płatność za szkolenie następuje na podstawie faktury otrzymanej po szkoleniu w terminie 14 dni.