Szkolenie: Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych

Wyszukiwanie
Słowo kluczowe:
Np.: temat, miasto, nazwa organizatora...
Kategoria:

Adres WWW wydrukowanej strony: http://www.szkolenia.eventis.pl//szkolenie/analiza-systemow-pomiarowych---metoda-rr-dla-pomiarow-niepowtarzalnych-13551-id127

Informacje o szkoleniu

  • Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych


    ID szkolenia: 13551
    Kategoria: Szkolenia i Kursy
    Branża/temat: Jakość
  • Adres szkolenia:

    TQMsoft
    Bociana 22a
    31-231 Kraków
    woj. małopolskie
  • Termin szkolenia:

    Data: 30.2012-30.01.2013
    Godziny zajęć (czas trwania):
    2 dni po 7 godzin

    TERMINY:
    02-03.02.2012
    12-13.04.2012
  • Organizator szkolenia:

    TQMsoft
Zadaj pytanie:
Zgłoś uczestnictwo:
Narzędzia: Poleć znajomemu Drukuj
Wyszukaj inne
Szkolenia i Kursy

Opis szkolenia

Informacje podstawowe o szkoleniu:

Metody oceny zdolności systemów pomiarowych (MSA) w przypadku pomiarów niepowtarzalnych (np. niszczących lub zmieniających wielkość mierzoną) wg wytycznych branży motoryzacyjnej (MSA-4). Przegląd i powtórka metod MSA dla pomiarów powtarzalnych. Monitorowanie stabilności systemów pomiarowych w przypadku pomiarów niepowtarzalnych, analiza „R&R” dla pomiarów niepowtarzalnych – ARM, RM, ANOVA. Przykłady, ćwiczenia z wykorzystaniem prostego sprzętu pomiarowego i arkuszy obliczeniowych. Szacowany udział części praktycznej szkolenia: ok. 80%.

Szkolenie skierowane jest do:

- osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno- pomiarowym, - pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych / badawczych, - osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów / metod kontroli wyrobu / nadzorowania procesu, - pracownicy działów jakości / kontroli jakości, - auditorzy wewnętrzni, auditorzy II strony (dostawców), auditorzy III strony (certyfikujący), szczególnie wg wymagań ISO/TS 16949, - osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt)

Program szkolenia:

• Zdolność systemu pomiarowego:

- przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru,

- niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji

- skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem,

• Składniki zmienności, wskaźniki i wymagania – powtórka:

- niepoprawność wskazań (błąd systematyczny),

- błędy przypadkowe: powtarzalność (EV), odtwarzalność (AV), niepewność wynikowa (powtarzalność i odtwarzalność R&R),

- zmienność całkowita (TV) a zmienność własna procesu (PV),

- rozdzielczość i rozróżnialność (ndc),

- wskaźniki zdolności i wymagania dla zadań pomiarowych związanych z kontrolą jakości lub sterowaniem procesem,

- krótkoterminowa i długoterminowa stabilność systemu pomiarowego: karty kontrolne SPC w zastosowaniu do monitorowania systemu pomiarowego,

• Metodologia badań zdolności systemów pomiarowych:

- analiza „R&R” metodą średnich i rozstępów (ARM) dla pomiarów „powtarzalnych” – powtórka,

- przypadek pomiaru „niepowtarzalnego” – problemy z określeniem źródeł zmienności,

- metody monitorowania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów powtarzalnych (procedury S1, S2) oraz niepowtarzalnych (procedury S3, S4, S5a, S5b),

- pojęcie próbki „homogenicznej”, wytyczne przygotowania,

- metody badania zdolności systemu pomiarowego w przypadku pomiarów niepowtarzalnych: procedury V3, V3a, V4, V4a – analiza „R&R” z użyciem metody ARM (średnich i rozstępów) „ANOVA Crossed” (krzyżowa) i „ANOVA Nested” (zagnieżdżona),

- problemy i ograniczenia w interpretacji negatywnych wyników analiz.
Ćwiczenia:

- Analiza R&R metodą średnich i rozstępów (ARM)- analiza przypadku (powtórka),

- Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych X-mR, z-R, Xśr-R do monitorowania długoterminowej stabilności systemu pomiarowego (procedury S1, S3, S4, S5a),

- Ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu ,,orzekanie zgodności ze specyfikacją" oraz do zastosowań w SPC (pomiary ,,niepowtarzalne"):

+ procedura V3 oraz V3a (test-retest study) ćwiczenie obliczeniowe,

+ analiza R&R metodą ,,Anova Nested" studia przypadków,

+ analiza R&R metodą ,,Anova Nested" przygotowanie próbki homogenicznej, własnoręczne pomiary i analiza wyników,

Uwagi:

- W ramach ćwiczeń może zostać wykonana analiza ,,R&R" dla systemu pomiarowego dostarczonego na szkolenie przez Uczestników- wymagany wcześniejszy kontakt z trenerem,

- W przypadku przesłania przez Uczestników nie później niż 14 dni przed szkoleniem opisu konkretnego problemu związanego z analizą R&R, w czasie ćwiczeń może odbyć się wspólna próbą jego rozwiązania- wymagana pisemna zgoda Uczestnika na upublicznienie opisu problemu (bez nazw własnych).
Metodyka:
wykład
ćwiczenia
Szkolenie ilustrowane przykładami, symulacjami, ćwiczeniami w grupach.

Informacje o prelegentach:

trener TQMsoft, specjalista – praktyk w dziedzinie metrologii

Koszt i warunki udziału

Ceny:

  • 1400 - PLN/os.

Cena zawiera:

szkolenie, materiały, certyfikat uczestnictwa w szkoleniu, obiady, słodki poczęstunek, możliwość bezpłatnych, krótkich konsultacji do 3 miesięcy po szkoleniu, pomoc w rezerwacji hotelu

Dostępne zniżki:

  • 20% - zniżka dla drugiej i każdej następnej zgłoszonej osoby

Dofinansowanie z UE:

Nie.

Warunki udziału i przyjmowania zgłoszeń:

Zgłoszenie uczestnictwa w postaci Karty zgłoszenia przesłać w postaci faksu, nie później niż na 5 dni roboczych przed rozpoczęciem szkolenia.
Płatność za szkolenie następuje na podstawie faktury otrzymanej po szkoleniu w terminie 14 dni.

Szkolenie, kurs: Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych